目录
前言
主菜单
存储器测试
伺服器测试
在物理转换和逻辑转换中的测试
在物理转换中的测试
物理探伤法
测试的特点
存储器的重新设定
磁头数量的变更
修理中推荐使用的顺序
内存的工作
数据内存的工作
只读存储器的刷新
服务区的工作
故障表的工作
常见问题解答

前言
在本手册中记述了与Samsung存储器相关的基本内容，为了使您能够更好的掌握书中的内容，在阅读以前推荐您先了解一下HRT体系。

主菜单
Samsung主菜单的结构如下：
（图见书）

各菜单项的内容将在以下的具体阐述。

存储器测试
伺服器测试
Samsung存储器的伺服器测试有着这样的特点：差不多所有版本的存储器其PES（Position Error Signal）水平都相近。也就是说，对于Samsung存储器伺服器测试只能找到很粗浅的错误，并不能成为修理存储器的有效工具。

在物理和逻辑转换中的测试
物理转换测试
对于Samsung存储器物理转换测试同样也是低水平的测试。他能够找到一系列扇区错误，但是在下边的逻辑转换测试中找到的错误将会比这多得多，一般情况下物理测试只能被作为一种评定方法，这样的话，物理探伤将会找到较多而不是较少数量的错误，但是执行时间将会短很多。
物理探伤法
物理探伤法与逻辑测试类似，不同的是他是在物理转换中执行的。开始的时候对磁头进行完整的测试，并记下测试持续的时间。完成第一部以后，程序会要求您设定危机时间，接下来会开始按照扇区对此磁道进行阅读，在这里所被阅读的是阅读时间超过危机时间或者测试中发现错误的磁道。
该测试的优点是速度块。但是仍有大概3－5％的错误是通过该测试找不出来的，推荐大家先进行物理探伤法测试（该测试较其他测试数度快得多），然后在进行逻辑探伤法测试（如果出现先前没有找到的错误，她的位置将会被标出来，要是没有发现更多的错误那就更好了）。
测试特点
Samsung存储器测试的有这样一个特点：在完成对P-LIST中故障的修复以后必须通过逻辑记录测试或者快速清理程序完成表面的完全记录。
注意！！！Samsung存储器的任何工作都可以看作是寄存器的集合，他可以是因为某个极小的原因引起的。作者采用的例题，就是故障表中有着关于不存在的磁头以及一些很普通的情况。作者推荐大家在总控制时进行Write测试 和Read+Check。

存储器的重新设定
变更磁头数
为了找出在测试过程中必须停止使用的不正确磁头，必须点击菜单项Actions->Edit Head Map。点击候显示屏上会出现这样的对话框。
（图见书）

列表中包含有磁头卡，上图中他们时按照升序排列的。总的来说Head列中表示的是实际物理磁头，在Pos框中表示的是伪物理磁头，伪物理磁头排列必须是没有间隙的，例如，在存储器中有不正确的实际物理磁头1（其磁头卡情况如下）。图中，磁头1对应的值为255，其余磁头对应的值为0，1，和2。总的来说，0，1，2数值可以改变，但是建议大家0磁头最好保存在0位置。为了改变Pos框中的数值必须选中所需要的行，在框中输入编辑数值，然后点击Change键就可以了。除了此以外，还需要对Heads框中的数值进行改变。Full Size Heads框中给出存储器完全格式化数量。如果自动填充失效时，您需要对手动输入数值。
点击OK键，将进行存储器中参数的自动重新核算，他们将被记入到服务区中。

修理中推荐使用的顺序
为了清楚以外的错误，进行表面的快速清理程序。
进行物理探伤程序。如果被查处的错误不多，对其进行修复。如果错误数目众多，那么从工作中删除最不稳定的磁头，或者减少最大物理柱面。
如果修复了任何一处错误，进行快速清理程序。
完成逻辑探伤程序。
如果修复了任何一处错误，进行快速清理程序。